Микроскопия

Park FX40 — революция в атомно-силовой микроскопии: автоматизация, интеллект и точность В мире современных научных исследований скорость, точность и воспроизводимость данных играют решающую роль. Компания Park Systems, мировой лидер в разрабо..
Park NX20 — передовой атомно-силовой микроскоп для анализа крупных образцов В современных научных исследованиях и промышленном производстве всё большее значение приобретает точность анализа на наноуровне. Особенно это актуально при диагностик..
Park nano-IR: революция в нанохимическом анализе с интеграцией АСМ и ИК-спектроскопии В современных научных и промышленных исследованиях всё большее значение приобретает способность проводить химический анализ на наноуровне. Традиционные методы ИК-..
Tosca 200 является последним дополнением к серии Tosca, которая теперь состоит из Tosca 400, АСМ премиум-класса для больших образцов, и Tosca 200, АСМ для образцов среднего размера и исследований с ограниченным бюджетом. Оба устройства имеют одинаков..
Park Systems FX300: передовой атомно-силовой микроскоп для промышленных и исследовательских задач В современной нанотехнологии и микроэлектронике требования к точности, скорости и масштабируемости измерений постоянно растут. Решением для передовых ..
NX20 300 мм: передовой атомно-силовой микроскоп для анализа крупногабаритных образцов от Park Systems В современной нанотехнологии и полупроводниковой промышленности точность, надёжность и масштабируемость измерений играют определяющую роль. Компан..
Park NX-Hivac — передовой атомно-силовой микроскоп для вакуумных исследований и анализа отказов   В современных научных и промышленных лабораториях, где требуется предельная точность и воспроизводимость измерений, особую ценность приобр..
Park NX10 — передовой атомно-силовой микроскоп для передовых исследований В мире современных нанотехнологий точность, воспроизводимость и простота использования оборудования играют решающую роль. Именно этим требованиям полностью отвечает ато..
Park FX200 — инновационный атомно-силовой микроскоп для крупноформатных образцов В современных научных и промышленных исследованиях всё большее значение приобретает высокоточная нанохарактеризация материалов. Компания Park Systems, мировой ли..
Видеоизмерительные микроскопы UHL серии MS2, MS3, MS4: эталон точности в промышленности В современном производстве, где каждая микрона имеет значение, контроль геометрических параметров деталей требует высокоточного и надёжного оборудования. Компа..
Park NX15 — передовой атомно-силовой микроскоп для научных и промышленных задач В современных научных и промышленных лабораториях всё большее значение приобретают приборы, сочетающие высокую точность, универсальность и надёжность. Одним из та..
Измерительный микроскоп UHL VMM 100: высокая точность и универсальность в промышленном контроле В современном производстве, где каждый микрон имеет значение, точность измерений становится критически важным фактором. Измерительный микроскоп UHL VMM ..
Измерительный микроскоп UHL VMM200: эталон точности в промышленной метрологии В современном производстве, где каждый микрон имеет значение, точность измерений становится критически важной. Компания Walter Uhl Technische Mikroskopie GmbH & Co. K..
UHL Measuring Microscope VMM300: Высокоточный инструмент для промышленности и науки В современном производстве, научных исследованиях и метрологических лабораториях точность измерений играет решающую роль. Компания Walter Uhl techn. Mikroskopie Gmb..
Park NX7: доступный исследовательский атомно-силовой микроскоп нового поколения В современных научных и промышленных лабораториях высокоточное исследование поверхности на наноуровне становится не просто преимуществом, а необходимостью. Атомно-силова..
Компания Hitachi  является одним из крупнейших мировых производителей сканирующих электронных  микроскопов (СЭМ). Широко известна японская надежность и удобство микроскопов Hitachi. В Беларуси есть предприятия, которые используют сканирующи..
РАМ 30-μ - предназначен для исследования объектов методами оптической микроскопии, рентгенографии и локального ренгенофлуоресцентного элементного микроанализа с возможностью элементного картирования. С помощью микроскопа может быть проведено скани..
Park NX12 — универсальная платформа для передовых исследований в аналитической химии и материаловедении В современных научных лабораториях, особенно в условиях многопользовательских исследовательских центров, всё острее встаёт вопрос выбора о..
Высокая мощность передачи 90 кВ и превосходное увеличение изображение на экране мониторе до 100Х, несмотря на небольшой размерЭтот небольшой рентгеновский микроскоп можно оснастить функцией компьютерной томографии (КТ), которая позволит получать..
Оптическая измерительная система UHL MS5: высокоточное решение для современных метрологических задач В условиях высоких требований к точности и воспроизводимости измерений на производстве и в лабораториях всё большую популярность приобретают модуль..
Hitachi HT7800 — это просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) на 120 кВ с несколькими конфигурациями линз, включая стандартную линзу для непревзойденной высокой контрастности и лучшую в своем классе линзу HR для высокого разрешения.Этот прорыв..
Сканирующие электронные микроскопы Hitachi SU3800/3900 были созданы для достижения двух целей размещения образцов больших размеров и большого веса повышения простоты эксплуатации за счет автоматизации процесса измерения и обеспечения возможности ..
В сканирующих электронных микроскопах серии Regulus SU8200, японской компании Hitachi High-Technologies удалось разработать и применить революционную технологию "холодного" катода. В микроскопах сверхвысокого разрешения SU8200 установлена новая элект..
Accurion EP4: передовой эллипсометр для наноточных измерений толщины и оптических свойств В современных научных исследованиях, микроэлектронике, оптоэлектронике и нанотехнологиях критически важна точность измерения толщины тонких пленок и их оптиче..
Accurion RSE — передовой прибор для быстрого и точного анализа тонких пленок и поверхностей В современной микроэлектронике, полупроводниковой промышленности, оптоэлектронике и нанотехнологиях точное измерение толщины и оптических свойств тонк..
Микроскопия

Одним из важнейших методов исследования является микроскопия. Данный вид исследований позволяет уточнять характеристики или получать изображения микро или нано объектов. Наша компания предлагает целый спектр самого современного передового научного оборудования ведущих мировых производителей.

Для серьезных научных или промышленных исследований могут подойти следующие типы микроскопических исследований:

  • атомно-силовая зондовая микроскопия позволяет «ощупывать» объекты с помощью специальной иглы – кантилевера, на микро и нано уровне;
  • сканирующая электронная микроскопия или растровая электронная микроскопия позволяет получить изображение объекта на нано уровне с помощью пучка электронов. При подключении микроанализатора или EDX приставки можно получить информацию и качественном составе объекта;
  • просвечивающая электронная микроскопия отличается от сканирующей тем что улавливается пучок электронов которые проходит сквозь объект как бы просвечивая его. Современные просвечивающие микроскопы позволяют создавать 3D изображение внутренней структуры объектов;
  • рентгеновская микроскопия не такая дорогая как СЭМ или ПЭМ и используют рентгеновское излучение позволяя сделать качественный и количественный анализ вещества например в точке размером 10 микрон или построить карту вещества где будет виден его состав в каждой точке;
  • конфокальная микроскопия это улучшенная оптическая микроскопия которая за счет специальной оптической схемы и применения лазеров позволяет добиться контрастного качественного изображения биологических объектов на нано уровне.

Мы предлагаем только проверенное оборудование для микроскопии от надежных и известных в кругу профессионалов брендов на максимально выгодных условиях. Если заказчику требуется определенная модель, возможно оформление ее под заказ. Наши менеджеры готовы ответить на любые интересующие вопросы относительно ассортимента, и всегда помогут с выбором подходящего оборудования под конкретный пользовательский запрос.