АСМ для анализа больших образцов с наноточностью NX20

Узнать цену
Оставьте свой номер телефона и наш менеджер ответит на все интересующие Вас вопросы
Оперативность

Оперативная обработка заявок

Контроль

Контроль возможных изменений

Быстрая логистика

Быстрые способы доставки

Актуальность

100% актуальность условий поставки

  • Описание

Park NX20 — передовой атомно-силовой микроскоп для анализа крупных образцов

В современных научных исследованиях и промышленном производстве всё большее значение приобретает точность анализа на наноуровне. Особенно это актуально при диагностике дефектов в микроэлектронике, полупроводниковых пластинах, композитных материалах и других сложных структурах. На этом фоне особое внимание заслуживает Park NX20 — передовой атомно-силовой микроскоп (АФМ), разработанный компанией Park Systems специально для исследования крупногабаритных образцов с высочайшей точностью и минимальным износом зонда.

 

 

АСМ для анализа больших образцов с наноточностью NX20

 

Инновационное решение для анализа дефектов

Park NX20 — это не просто микроскоп, а комплексная платформа для ревью дефектов и анализа отказов в производственных и исследовательских процессах. Благодаря уникальной технологии True Non-Contact™, инструмент обеспечивает сканирование в истинном непрерывном режиме без касания поверхности. Это позволяет:

 
  • Сохранять остроту зонда на протяжении тысяч сканирований
  • Исключать повреждение чувствительных образцов
  • Получать стабильные и воспроизводимые данные высокого разрешения
 

Такой подход особенно важен при анализе хрупких наноструктур, тонких плёнок и органических материалов, где даже минимальное механическое воздействие может исказить результаты.

 

 

АСМ для анализа больших образцов с наноточностью NX20

 

Уникальные особенности Park NX20

1. Работа с большими образцами

Одна из ключевых особенностей Park NX20 — возможность анализа объектов до 200 мм в диаметре (до 8 дюймов). Это делает его незаменимым инструментом в полупроводниковой промышленности, где требуется контроль целых пластин без необходимости их разрезания.

 

2. Высокое разрешение и точность

Прибор обеспечивает субнанометровое разрешение по высоте и точность позиционирования в нанометровом диапазоне. Это позволяет детектировать мельчайшие дефекты, такие как царапины, загрязнения, неровности и структурные неоднородности.

 

3. Автоматизация и простота использования

Park NX20 оснащён одной из самых интуитивных и автоматизированных систем управления в отрасли. Автоматическая настройка параметров сканирования, автофокусировка, распознавание образцов и предустановленные рабочие протоколы значительно сокращают время на подготовку и выполнение измерений. Это особенно ценно для лабораторий с высокой нагрузкой и для работы с персоналом разного уровня подготовки.

 

 

АСМ для анализа больших образцов с наноточностью NX20

 

4. Интеграция с другими системами

Микроскоп легко интегрируется с оптическими микроскопами, системами электронной микроскопии и ПО для анализа данных, что позволяет проводить коррелированную микроскопию и комплексный анализ дефектов.

 

5. Продвинутое программное обеспечение

В комплекте поставляется мощное ПО XEI Scientific, обеспечивающее не только управление прибором, но и продвинутую обработку данных: 3D-реконструкция, количественный анализ шероховатости, профилирование, статистика распределения частиц и многое другое.

 

 

АСМ для анализа больших образцов с наноточностью NX20

 

Технические характеристики Park NX20

 
Максимальный размер образца
До 200 мм (8 дюймов)
Максимальный вес образца
До 2 кг
Разрешение по высоте
< 0.1 нм (субангстрем)
Диапазон сканирования (XY)
До 100 мкм
Диапазон сканирования (Z)
До 15 мкм
Режимы сканирования
True Non-Contact™, Contact, Tapping, Force Spectroscopy, Conductive AFM, KPFM и др.
Точность позиционирования
< 1 нм
Автоматизация
Полная автонастройка, автофокус, автоопределение поверхности
Оптическая система
Встроенный оптический микроскоп с увеличением до 1000x
Интерфейс
Интуитивный сенсорный экран и ПО XEI
Подключение
Ethernet, USB, HDMI, возможность интеграции с внешними системами

Преимущества для бизнеса и исследований

Park NX20 — это инвестиция в точность, надёжность и производительность. Благодаря высокой степени автоматизации, лаборатории могут:

  • Сократить время на анализ с 30 минут до нескольких минут
  • Минимизировать влияние человеческого фактора
  • Повысить воспроизводимость результатов
  • Быстро предоставлять клиентам достоверные данные по отказам и дефектам

 

АСМ для анализа больших образцов с наноточностью NX20

 

Прибор идеально подходит для:

  • Контроля качества в микроэлектронике
  • Исследования наноматериалов и покрытий
  • Анализа полимеров, биоматериалов и тонких плёнок
  • Научных исследований в области нанотехнологий

Почему стоит выбрать Park NX20?

  • Высочайшее качество данных — благодаря технологии True Non-Contact™
  • Масштабируемость — от единичных образцов до промышленных пластин
  • Долговечность и низкие эксплуатационные расходы — меньше замен зондов, меньше простоев
  • Поддержка и сервис — глобальная сеть Park Systems обеспечивает техническую поддержку и обучение

 

АСМ для анализа больших образцов с наноточностью NX20

 

Park NX20 — это эталон современного атомно-силового микроскопа для анализа крупных образцов. Он сочетает в себе передовые технологии, простоту использования и промышленную надёжность. Независимо от того, работаете ли вы в области НИОКР, полупроводниковой промышленности или материаловедения, Park NX20 станет вашим ключевым инструментом для выявления причин отказов и разработки инновационных решений.

Готовы повысить точность вашего анализа? Закажите демонстрацию Park NX20 уже сегодня и убедитесь в его превосходстве! 

Теги: Park Systems