Спектроскопический эллипсометр Accurion SIMON

Accurion SIMON от Park Systems: передовой эллипсометр для промышленного и научного контроля

В современных технологиях, связанных с наноматериалами, полупроводниками, оптикой и микроэлектроникой, точное измерение толщины и оптических свойств тонких плёнок становится критически важным. На рынке решений для неразрушающего контроля выделяется Accurion SIMON — инновационный эллипсометр от компании Park Systems, разработанный в сотрудничестве с Accurion, ведущим производителем эллипсометрического оборудования. Этот прибор открывает доступ к передовым методам анализа тонких покрытий, сочетая в себе простоту использования, высокую скорость и точность измерений.

Accurion SIMON — это компактный, но мощный спектроскопический эллипсометр, специально разработанный для рутинных задач в лабораториях, цехах и исследовательских центрах. Прибор объединяет преимущества оптической микроскопии и эллипсометрии, позволяя одновременно визуализировать поверхность образца и проводить количественные измерения толщины и показателя преломления (refractive index) в масштабе нанометров.

SIMON идеально подходит как для научных исследований, так и для промышленного контроля качества — от анализа монослоёв графена до проверки однородности покрытий на крупногабаритных подложках.

Accurion SIMON работает в двух основных режимах, что делает его универсальным инструментом:

1. Микроскопический режим
   Обеспечивает сверхбыструю визуализацию поверхности с высоким разрешением. Позволяет обнаруживать неоднородности, дефекты и вариации в тончайших слоях, включая монослои толщиной всего 0,35 нм. Это особенно важно при работе с 2D-материалами (графен, MoS₂, WS₂ и др.).

2. Эллипсометрический режим
   Позволяет точно измерять толщину и показатель преломления (n) материалов. Прибор автоматически строит цветовые карты распределения этих параметров по всей поверхности образца, что даёт полное представление о качестве покрытия.

• Контроль качества в производстве — выявление неоднородностей, пузырей, царапин и других дефектов на покрытиях.
• Исследования 2D-материалов — быстрая локализация отдельных флейков графена и других монослоёв.
• Разработка оптических покрытий — измерение толщины антиотражающих, защитных и проводящих слоёв.
• Биомедицинские исследования — анализ адсорбции белков, ДНК и тонких биоплёночных структур.
• Полупроводниковая промышленность — контроль диэлектриков и оксидных слоёв на кремнии.

• Простота использования — подходит даже для операторов без глубоких знаний в эллипсометрии.
• Высокая скорость — измерения за секунды, идеально для рутинного контроля.
• Неразрушающий метод — без контакта с образцом.
• Компактность и надёжность — фиксированный угол падения обеспечивает стабильность результатов.
• Визуализация в реальном времени — цветовые карты толщины и n позволяют мгновенно оценить качество покрытия.

Park Systems — мировой лидер в области атомно-силовой микроскопии и наноанализа. В партнерстве с Accurion компания предлагает интегрированные решения, сочетающие передовые технологии и высокое качество. Accurion SIMON — это не просто прибор, а готовое решение для предприятий, которым важны точность, скорость и надёжность.

Благодаря простоте интеграции в производственные линии и лабораторные процессы, SIMON становится незаменимым инструментом для контроля на этапах R&D и массового производства.

Хотите повысить точность контроля тонких плёнок на вашем производстве? Обеспечьте качество своих покрытий с помощью Accurion SIMON от Park Systems. Мы предлагаем:

• Консультации по выбору конфигурации
• Обучение персонала
• Гарантийное и постгарантийное обслуживание
• Быструю доставку

Свяжитесь с нами для получения коммерческого предложения и демонстрации возможностей прибора!