Рентгенофлуоресцентный спектрометр XAD 200: точный анализ материалов с инновационными технологиями

Рентгенофлуоресцентный спектрометр XAD-200: инновационное решение для высокоточного анализа материалов

Рентгенофлуоресцентный спектрометр XAD-200 представляет собой современное лабораторное оборудование с уникальным верхним расположением источника рентгеновского излучения, сочетающее в себе проверенную "четырехфокальную" технологию и автоматизированную крупногабаритную движущуюся платформу. Прибор оснащен функцией визуального распознавания, что позволяет проводить измерения толщины покрытий на уровне нанометров, анализировать малые образцы и сложные формы, включая детали с углублениями. Устройство также идеально подходит для микрорайонных тестов на соответствие RoHS и полного элементного анализа. Независимо от того, проводится ли тестирование одного или нескольких образцов, прибор обеспечивает точность, скорость и эффективность.

Преимущества устройства

● Микрофокусная X-лучевая установка
Использует усовершенствованную микрофокусную X-лучевую трубку и "четырехфокальную" оптическую систему, что позволяет достичь минимальной площади измерения всего 0,03 мм² .

● Многофункциональность и высокая точность
Все компоненты устройства интегрированы в единый комплекс, что гарантирует максимальную концентрацию потока излучения без его ослабления. Прибор идеально подходит для тестирования на соответствие нормам RoHS, полного элементного анализа и быстрого точного контроля различных типов покрытий и изделий, включая сложные по форме объекты.

● Система зума и алгоритм коррекции положения
Позволяет выполнять неинвазивный анализ деталей с углублениями глубиной до 90 мм , что особенно важно при работе со сложными конструкциями.

● Измерение нанометровых золотых покрытий за десятки секунд
Благодаря оптимальному проектированию, прибор демонстрирует высокую чувствительность даже в условиях использования малых коллиматоров. Это значительно повышает точность измерения толщины тонких покрытий, включая нанометровые золотые слои.

● Оригинальный алгоритм EFP
Разработанный специально для этого спектрометра алгоритм EFP обеспечивает точное измерение покрытий из элементов от лития (Li) до урана (U), включая многослойные структуры и случаи, когда один и тот же элемент присутствует в разных слоях.

Технические характеристики

·        Модель : XAD-200

·        Анализ покрытий :

·        Одновременный анализ до 23 слоев и 24 элементов .

·        Возможность анализа элементов от Li (3) до U (92).

·        Точные измерения толщины покрытий для 90 элементов .

·        Анализ RoHS :

·        Обнаружение вредных веществ согласно стандартам RoHS и содержание халогенов.

·        Компонентный анализ :

·        Анализ состава различных сплавов и драгоценных металлов, включая элементы от Al (13) до U (92).

·        Алгоритм EFP : Встроен в базовую комплектацию.

·        Программное обеспечение :

·        Интуитивно понятный интерфейс с функцией автоматического определения ошибок, подсказками по исправлению и пошаговым руководством для предотвращения ошибок оператора.

·        Время анализа : От 1 до 200 секунд .

·        Детектор сигнала :

·        Базовый: DPP+FAST SDD.

·        Дополнительно доступны: Si-Pin полупроводниковый детектор или большой DPP+FAST SDD.

·        X-лучевая установка : Микрофокусная усиленная X-лучевая трубка.

·        Коллиматоры :

·        Стандартные: 0,1×0,3 мм; φ0,3 мм; φ1,2 мм; φ3 мм.

·        Опциональные: φ0,2 мм; φ0,5 мм; φ1,2 мм; φ3 мм.

·        Автоматическое переключение между четырьмя коллиматорами.

·        Микрофокусная технология : Минимальное расширение светового пятна менее 10%.

·        Фильтры : Интегрированная система с несколькими фильтрами.

·        Измерительное расстояние : Компенсация расстояния для анализа выпуклых и вогнутых поверхностей с возможностью изменения фокуса на расстоянии от 0 до 90 мм .

·        Фокусировка : Лазерная фокусировка для точного позиционирования.

·        Габариты прибора : 550×760×635 мм.

·        Ход Z-оси : 145 мм.

·        Образцовая платформа : Автоматическая высокоточная XY-платформа.

·        Диапазон перемещения : 210×250 мм.

·        Вес прибора : 120 кг.

·        Дополнительные аксессуары : Комплект компьютера, принтер, кейс с аксессуарами, набор эталонных образцов, кубок для измерения гальванических растворов (опция).

·        Стандарты X-лучей : Соответствует DIN ISO 3497, DIN 50987 и ASTM B 568.

Области применения

·        Металлургическая промышленность : Контроль качества сплавов, покрытий и защитных слоев.

·        Электроника : Тестирование электронных компонентов на соответствие стандартам RoHS, анализ тонких металлических покрытий.

·        Ювелирное дело : Определение чистоты драгоценных металлов и толщины покрытий.

·        Геология и горная промышленность : Исследование минералов и пород.

·        Экологический мониторинг : Выявление загрязняющих веществ в окружающей среде.

Если вам нужен современный, универсальный и надежный рентгенофлуоресцентный спектрометр , который справится с задачами любого уровня сложности — от анализа нанопокрытий до полного элементного состава, этот прибор станет вашим идеальным выбором. Он сочетает в себе инновационные технологии, высокую точность и удобство использования, делая процесс анализа максимально эффективным!