Оперативная обработка заявок
Контроль возможных изменений
Быстрые способы доставки
100% актуальность условий поставки
- Описание
- Доп. материалы
Сканирующие оптические микроспектрометры ближнего поля серии NFS были оптимизированы как новое решение для нанотехнологических приложений. Традиционно методы характеризации в нанометровом масштабе состоят из наблюдения за топографией с использованием электронного или сканирующего зондового микроскопа или элементного анализа с использованием рентгеновского микроанализатора. Эти методы позволяют получать изображения с высоким пространственным разрешением, но не позволяют получить химическую информацию о поверхности образца. Эти устройства могут выполнять измерения с пространственным разрешением около 10-100 нм. Возможность наблюдения за изменениями спектральной интенсивности и преобразованиями волновых пиков на небольших участках может лучше описывать свойства материалов.
Отличия:
- Первый в мире интегрированный сканирующий оптический спектроскопический микроскоп ближнего поля
- Измерительная микроспектроскопия с высоким пространственным разрешением от десятков до сотен нм.
- С помощью зонда производства Nippon Spectroscopy можно точно использовать свет ближнего поля определенного размера.
- Одновременное измерение крошечных неровностей на поверхности образца. Использование аналогично атомно-силовой микроскопии (АСМ).
Волоконно-оптические датчики серии NFS с отверстием на переднем конце от десятков до 100 нм используются для генерации или сбора света в ближнем поле. Технология апертуры Nippon Spectroscopy разработана на основе результатов исследований Академии наук и технологий Канагава (KAST), и апертура определенного размера имеет хорошую воспроизводимость. Размер отверстия строго контролируется с помощью электронной микроскопии.
Инструменты FTIR, фотолюминесцентной или рамановской микроспектроскопии могут предоставить химические данные для образца, но пространственное разрешение определяется пределом дифракции света, ограниченным длиной волны используемого света. Сканирующие микроспектрометры ближнего поля позволяют определять характеристики в диапазоне экстремальных наноуровней, превышающих дифракционный предел света.
Введение света в волоконный зонд с апертурой от сотен до нескольких сотен нм дает свет ближнего поля того же размера, что и апертура зонда. Приближение образца к апертуре зонда (в пределах 100 нм) позволяет проводить спектроскопические наблюдения с пространственным разрешением в несколько сотен нм за счет взаимодействия света ближнего поля с поверхностью образца.
