Электронный микроскоп настольного типа COXEM EM-40/EM-40PE

Узнать цену
Оставьте свой номер телефона и наш менеджер ответит на все интересующие Вас вопросы
Оперативность

Оперативная обработка заявок

Контроль

Контроль возможных изменений

Быстрая логистика

Быстрые способы доставки

Актуальность

100% актуальность условий поставки

  • Описание
Введение в семейство настольных СЭМ COXEM EM-40

Современные научные и промышленные лаборатории предъявляют высокие требования к скорости получения данных, качеству изображений и простоте эксплуатации оборудования. Компания COXEM представила свою новейшую линейку настольных сканирующих электронных микроскопов (SEM) серии EM-40, запущенную в 2024 году. Данная серия включает базовую модель EM-40 и специализированную версию EM-40PE, оптимизированную для задач анализа частиц.

Ключевой особенностью этих приборов является использование электронно-лучевой пушки с вольфрамовой нитью (Tungsten filament), что обеспечивает стабильность источника излучения при сохранении компактных размеров системы. Пространственное разрешение составляет менее 5 нм, а диапазон увеличения простирается от 13x до 250 000x. Это позволяет исследовать объекты как на макро-, так и на наноуровне с высокой детализацией.

Настольный сканирующий электронный микроскоп COXEM EM-40

 

 

Программная платформа Nanostation V5 и интуитивный интерфейс

Управление приборами осуществляется через новую операционную систему Nanostation V5. Эта платформа объединяет процессы визуализации, анализа и управления данными в едином рабочем пространстве. Интерфейс разработан с учетом потребностей пользователей разного уровня подготовки — от новичков до опытных специалистов по электронной микроскопии.

  • Высокая скорость обработки сигналов: Благодаря технологии 5-го поколения генерации сигнала, система способна формировать изображения со скоростью до 13 кадров в секунду.
  • Автоматизация рабочих процессов: Функции автофокусировки, автоматической яркости и контрастности сокращают время настройки перед началом съемки.
  • Гибкие настройки изображения: Пользователь имеет полный контроль над параметрами захвата, включая смешение сигналов вторичных электронов (SE) и обратноотраженных электронов (BSE).
  • Тройной дисплей: Возможность одновременного просмотра трех различных видов изображений или данных упрощает сравнительный анализ.

 

Особенности модели EM-40PE для анализа частиц

Версия EM-40PE является специализированным производным от базовой модели EM-40. Она разработана специально для задач инспекции и характеризации частиц. В отличие от стандартной модификации, эта версия поддерживает более крупные образцы и использует мембранные фильтры стандартного размера 47 × 47 мм.

Для повышения точности анализа в конфигурации EM-40PE интегрирован увеличенный датчик энергодисперсионной спектроскопии (EDS) площадью 65 мм². Это решение позволяет проводить быструю и точную химическую идентификацию частиц непосредственно во время сканирования поверхности.

Интегрированный модуль Nano Particle Analyzer автоматически выполняет количественные измерения, предоставляя воспроизводимые данные о размере, форме и составе частиц.

Nano Particle Analyzer

 

Режим переменного давления (VP) и работа с непроводящими образцами

Одним из значимых преимуществ серии EM-40 является поддержка режима переменного давления (Variable Pressure). Этот метод минимизирует эффект накопления заряда на поверхности образца, что критически важно для изучения диэлектрических материалов без необходимости нанесения проводящего покрытия.

Variable PressureVariable Pressure

  • Доступны три ступени вакуума: 10 Па, 20 Па и 30 Па.
  • Подавление зарядки позволяет получать стабильные изображения полимеров, керамики и биологических тканей.
  • Сохранение нативной структуры образца благодаря отсутствию деструктивных методов подготовки (напыление золота/углерода).

 

Функционал 3D реконструкции и панорамной съемки

Программное обеспечение Deep3D трансформирует двумерные изображения, полученные методом регистрации обратноотраженных электронов (BSE), в полноценные трехмерные модели поверхностей. Это дает возможность визуализировать морфологию материала и проводить анализ высот рельефа в реальном времени.

Также доступна функция Large Area Imaging (панорамная съемка). Система автоматически выполняет сканирование больших областей и бесшовное сшивание полученных фрагментов. Результатом становится одно высокодетальное изображение всей площади образца, что удобно для оценки однородности материалов или поиска дефектов на крупных поверхностях.

Large Area Imaging

 

Исследование биологических объектов: STEM и охлаждающий модуль

Серия EM-40 расширяет свои возможности за счет дополнительных модулей, ориентированных на работу с чувствительными материалами. Для биологических исследований предусмотрен модуль просвечивающей электронной микроскопии (STEM). Он обеспечивает высокое контрастное изображение внутренних структур клеток и наночастиц, позволяя видеть детали, недоступные при обычной поверхностной съемке.

STEM

Для сохранения естественного состояния влажных и термочувствительных образцов предлагается Cooling Module (охлаждающий столик). Данный аксессуар стабилизирует температуру образца, минимизируя испарение влаги и деформацию структуры под воздействием пучка электронов. Это особенно важно для пищевой промышленности, фармацевтики и фундаментальной биологии.

Охлаждающий столик для сохранения нативного состояния влажных образцов

 

Технические характеристики и конструкция

Приборы отличаются компактными габаритами и весом всего 81,5 кг, что делает их пригодными для размещения даже в небольших лабораториях. Габаритные размеры составляют 315×560×580 мм. Вакуумная система построена на базе турбомолекулярного насоса производительностью 80 л/с и ротационного форвакуумного насоса мощностью 100 л/мин.

Характеристика EM-40 EM-40PE
Источник электронов Вольфрамовая нить (W) Вольфрамовая нить (W)
Пространственное разрешение < 5 нм < 5 нм
Увеличение 13x – 250,000x 13x – 250,000x
Напряжение ускоряющего поля 1 – 30 кВ (шаг 1 кВ) 1 – 30 кВ (шаг 1 кВ)
Координаты стола (X/Y/Z) 40 / 40 / 40 мм (моторизованный) 50 / 50 / 40 мм (моторизованный)
Детекторы SE, BSE*, EDS* SE, BSE*, EDS* (увеличенный сенсор)
Режимы вакуума HV, LV*, VP* HV, LV*, VP*
Форматы вывода данных JPEG, TIFF, BMP JPEG, TIFF, BMP

* Доступно как опция или входит в базовую комплектацию в зависимости от заказа.

 

 

Стандарты качества и соответствия требованиям

Эксплуатация электронных микроскопов требует соблюдения ряда международных и национальных нормативных документов, регулирующих безопасность, метрологическое обеспечение и методы испытаний материалов. При выборе и использовании моделей COXEM EM-40/EM-40PE рекомендуется руководствоваться следующими стандартами:

  • ГОСТ Р ИСО 10993-1-2014 «Изделия медицинские. Оценка биологического действия медицинских изделий». Актуален для использования микроскопа в биоисследованиях и работе с медицинскими материалами.
  • ГОСТ ISO 13322-1:2016 «Частицы тонкодисперсные. Методы определения характеристик частиц. Часть 1. Определение распределения частиц по размерам методами микроскопии». Прямо относится к функциям анализа частиц в модели EM-40PE.
  • ГОСТ 8.557-2013 «Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений среднего диаметра и удельной поверхности пор в диапазоне...» (общие принципы калибровки средств микроскопии).
  • IEC 61010-1:2010 «Safety requirements for electrical equipment for measurement, control, and laboratory use». Международный стандарт безопасности лабораторного электрического оборудования.
  • ISO 16016:2015 «Nanotechnologies — Vocabulary — Part 1: Terms relating to nanomaterials». Стандарт терминологии наноиндустрии, важный для корректной интерпретации результатов при разрешении < 5 нм.
  • Беларусь СТБ ISO 10993-1-2014 Аналог международного стандарта по оценке биологического действия медизделий, принятый в Республике Беларусь.
  • Россия ГОСТ IEC 61010-1-2014 «Оборудование электрическое для измерения, контроля и лабораторного применения. Требования безопасности».

Настольные электронные микроскопы COXEM EM-40 и EM-40PE представляют собой мощные инструменты для широкого круга задач: от материаловедения и полупроводниковой индустрии до биологических исследований и анализа окружающей среды. Сочетание высокого разрешения, быстрого программного обеспечения Nanostation V5 и гибких опций, таких как режим переменного давления и модули 3D-реконструкции, делает эти приборы доступными решениями для лабораторий любого масштаба. Специализированная версия EM-40PE с усиленным EDS-сенсором закрывает нишу быстрых и точных анализов порошковых материалов и фильтрационных проб.

Теги: Электронный микроскоп настольного типа COXEM EM-40/EM-40PE, EM-40/EM-40PE, 1562, Сканирующие электронные микроскопы