Аналитическое, исследовательское, испытательное оборудование
+375 (29) 132-55-65
+375 (17) 360-55-65

Универсальный исследовательский рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 (8Н)

Современный высококлассный  рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 (8Н) для любых задач дифрактометрии

Категория:

Описание

Рентгеновские дифрактометры модели ДРОН-8, ДРОН-8Н являются одними из самых популярных моделей компании «Буревестник». Эти приборы можно назвать универсальными «рабочими лошадками». Дифрактометры построены по стандартной схеме с вертикальным гониометром, образец располагается в горизонтальной плоскости.

Конструкторы дифрактометров ДРОН постоянно улучшают и совершенствуют свои приборы. В последних моделях 8-ой серии используются позиционно чувствительные детекторы ведущего мирового производителя детекторов рентгеновского излучения компании DECTRIS. Системы быстрой регистрации Mythen 2R1D и Mythen 2R1K являются передовыми в отрасли и превосходят японских и европейских конкурентов.

Кроме этого уже давно покупателю предлагаются на выбор рентгеновские трубки как российского производства так и европейского. К примеру клиент может выбрать вместо медного (Cu) анода хром (Cr) , молибден (Mo) или какой то более экзотический материал. Кроме этого трубка может быть как остро фокусной так и стандартной.

Применение дифрактометров

В порошковой дифрактометрии в геометриях Брэгга-Брентано

  • Качественный и количественный фазовый анализ поликристаллических материалов и объектов в том числе покрытий и тонких пленок.
  • Определение степени кристалличности, размеров кристаллитов и микродеформаций решетки дисперсных материалов.
  • Определение типа и метрики кристаллической решетки, анализ структуры поликристаллов.
  • Исследование фазовых переходов, химических реакций и термических деформаций кристаллической решетки при изменении внешних условий (температуры, давления, влажности, газовой среды, вакуума).

Анализ остаточных напряжений

  • Определение преимущественной ориентации частиц в металлах и других поликристаллических материалах и объектах.
  • Определение линейных, плоскостных и объемных остаточных напряжений в сварных швах, деталях и конструкциях.
  • Определение ориентации монокристаллов и различных изделий из них.

Анализ структуры и качества тонких пленок

  • Определение состава, толщины, рассогласования и дефектов слоев в тонких пленках, эпитаксиальных и наногетероструктурах.
  • Контроль качества материалов для микро- и наноэлектроники.

Исследование структуры нанообъектов

  • Определение формы, размера, фазового состава, внутренней структуры, ориентации и распределения наноразмерных элементов в поверхностно-активных веществах, эмульсиях (в.т.ч. в биологических средах), волокнах, катализаторах, полимерах, нанокомпозитах, жидких кристаллах и других дисперсных системах.

Дифрактометры серии «ДРОН» являются многофункциональными приборами в которых применяются различные рентгенооптические схемы для фазового анализа, исследование кристаллической решетки, изучения нанообъектов.

Примеры рентенооптических схем и их отображение в дифрактограммах

Схема Дебая-Шеррера, скользящего пучка и параллельно-лучевого

Рентгенооптическая схема Дебая-Шеррера скользящего пучка и параллельно-лучевого

Схема для определения ориентации монокристаллов

Рентгенооптическая схема дифрактометра для определения ориентации монокристаллов

Схема для монокристаллов в высоком разрешении

Рентенооптическая схема для монокристаллов в высоком разрешении

Схема при малоугловом рассеянии и рефлектометрии

Рентгенооптичская схема рентгеновского дифрактометра при малоугловом рассеянии и рефлектометрии

Системы регистрации

позиционно чувствительный детектор Mythen

Система быстрой регистрации на основе позиционно чувствительных детекторов Mythen 2R1D и Mythen 2R1K для ДРОН-7М, ДРОН-8/8Т.

• Система обеспечивает быстродействие аппарата в 100 раз больше, чем с точечным детектором.

• Размер стрипа: 50 мкм ± 3 мкм.

• Количество каналов: 1280 (2 R 1K) и 640 (2R1D).

• Активная область, мм2: 8 x 64 (2 R 1K) и 8 x 32, 4 х 32 (2R1D).

Применяется для следующих задач:

• Измерение большого количества образцов в ограниченное время;

• Анализ остаточных напряжений;

• Исследование дисперсных и быстроразлагающихся материалов;

• Анализ фазовых превращений и химических реакций в реальном времени;

• Идентификация микропримесей в пробах;

• Исследование очень малых количеств вещества.

Камеры для исследований в специальных условиях

высокотемпературная камера для дифрактометра

HTK-1200N высокотемпературная камера для ДРОН-7M, DДРОН8/8T Рабочие температуры: от +25 до +1200 oС

HTK-16N/2000N высокотемпературная камера для ДРОН-8/8T Рабочие температуры от +25 до +2300 oС

TTK-600 низкотемпературная камера для ДРОН-8/8T Рабочие температуры от -190 до +600 oС

Камера низких температур и влажности CHC+ для ДРОН8/8T Рабочие температуры (в вакууме) от -5 до +400 oС

Вакуумное оборудование для ДРОН-8/8T

Применяются для in situ исследований фазовых превращений и химических реакций, а также для анализа термических деформаций кристаллической решетки при изменении внешних условий (температура, давление, влажность, газовая среда или вакуум).