Аналитическое, исследовательское, испытательное оборудование
+375 (29) 132-55-65
+375 (17) 360-55-65

Компактный сканирующий электронный микроскоп FlexSEM SU1000

Описание

Компания Hitachi  является одним из крупнейших мировых производителей сканирующих электронных  микроскопов (СЭМ). Широко известна японская надежность и удобство микроскопов Hitachi. В Беларуси есть предприятия, которые используют сканирующие электронные микроскопы Hitachi в двухсменном режиме больше десяти лет без технического обслуживания, наладки. И микроскопы без проблем переносят такое отношение и нагрузку. Недавно у компании Hitachi появилась новая модель FlexSEM 1000 II. Данная модель сочетает в себе уникальную компактность и огромный функционал. В данной модели предусмотрены два вида размещения настольный и напольный, что существенно упрощает установку малых лабораториях. Специалисты компании Hitachi постарались, чтобы микроскоп был удобен как новичкам и так и опытным специалистам в области микроскопии снабдив его большим количеством полезного функционала.

 

  • Высококачественное изображение даже при самом высоком разрешении

Уникальная электронная оптика содержащая объектив с низкими искажениями и запатентованная система подачи тока высокой эмиссии позволяют получить высококачественные изображения даже на максимальном разрешении

Изображение 1 СЭМ микроскоп Hitachi FlexSEMИзображение 2 СЭМ микроскоп Hitachi FlexSEM
Ускоряющее напряжение: 20 кВ
Увеличение изображения при вторичных электронах (SE): 60 000X
Разрешение: 4,0 нм
Ускоряющее напряжение: 20 кВ с
Увеличение изображения с обратным рассеянием электронов (BSE): 50 000X
Разрешение: 5,0 нм

 

  • Высокоэффективная электронно-оптическая система

Микроскоп FlexSEM обеспечивает лучшее разрешение среди аналогичных моделей микроскопов в таком компактном корпусе. Это стало возможным благодаря новой электронно-оптической системе и надежному высокочувствительному детектору, позволяющим получать изображения с разрешение в 4 нм.

  • Новейший детектор для непроводящих образцов

Новые низко вакуумные разработки позволяют исследовать непроводящие образцы даже без предварительной пробоподготовки при любом давлении и ускоряющем напряжении.

  • Комфортные условия для работы

Пользовательский интерфейс адаптирован для новичков. Различные функции помогают автоматизировать и упростить процесс получения необходимых данных как новичкам так и профессионалам. Опционально подключается сенсорная панель.

Экран СЭМ микроскоп Hitachi FlexSEMЭкран 2 СЭМ микроскоп Hitachi FlexSEM
  • Интуитивная и удобная система ориентирования

Функция SEM MAP помогает быстро находить нужные области и получать сканированные изображения соответствующие оптическим изображения всего одним кликом мыши. Эта функция удобно внедрена программное обеспечение.

  • Продуманный компактный дизайн

Благодаря продуманной конструкции ширина микроскопа составляет всего 450 мм, что позволяет разместить сканирующий электронный микроскоп на минимальной площади. При чем блочная система микроскопа FlexSEM позволяет размещать его как на полу так и на столе. Для работы FlexSEM достаточно одной свободной розетки питания.

Сканирующий электронный микроскоп Hitachi FlexSEM IIСканирующий электронный микроскоп Hitachi FlexSEM II

 

  • Лучшее в классе качество изображения

Новая электронно-оптическая система и ультра вариативный детектор (UVD) обеспечивают превосходное качество отображение поверхностей образцов даже при малых ускоряющих напряжениях и в условиях низкого вакуума.

Образец скана электронный микроскоп Hitachi FlexSEM IIОбразец скана электронный микроскоп Hitachi FlexSEM II
Образец: смола
Напряжение : 5 кВ; Увеличение: 5,000X
Давление: 50 Па; Сигнал: UVD
Образец: поверхность пирита
Напрядение: 5 кВ; Увеличение: 1,000X
Давление: 40 Па; Сигнал: UVD